图书介绍

半导体器件参数测试自动化【2025|PDF下载-Epub版本|mobi电子书|kindle百度云盘下载】

半导体器件参数测试自动化
  • (苏)Ю.С.卡尔普主编;蔡连超,程文霖译 著
  • 出版社: 北京:国防工业出版社
  • ISBN:
  • 出版时间:1966
  • 标注页数:168页
  • 文件大小:4MB
  • 文件页数:172页
  • 主题词:

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图书目录

目录5

中功率脉冲晶体管自动分类机5

晶体管集电极电容Cк和集电极-基极回路时间常数rбCк的高稳定性晶体管化测量电路16

半导体结反向电流漂移的测量26

晶体管脉冲状态放大系数Bимп的自动测量38

脉冲晶体管时间特性的测量51

中功率脉冲晶体管寿命试验自动参数测量仪60

隧道二极管直流参数的直接测量方法71

小功率p-n-p晶体管寿命试验台89

小功率p-n-p晶体管寿命试验台的供电系统95

晶体管连接到自动参数测量部件的转换器106

小功率p-n-p晶体管Iко的自动测量114

小功率p-n-p晶体管β参数的自动测量126

小功率p-n-p晶体管1-α参数的自动测量132

小功率晶体管极限振荡频率分类仪145

高压整流二极管击穿电压的自动测定149

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